일본 AF?마이크로미터급 심도 고도 측정기 Z축 구동 장치의 기능

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개요

1. 빛이 절단된 좁은 틈의 이미지 관찰과 점광 이미지를 결합한 AF(자동초점) 추적의 신형 심도 고도 측정기다.2. 연속 추적 AF 구동을 통해 고정밀 중복 측정을 실현할 수 있으며 조작성이 좋고 속도가 빠르다.3. 좁은 틈 이미지에 매핑된 계단 모양을 관찰하면서 측정하는 방식이기 때문에 측정 화면의 높낮이를 실시간으로 인식해 측정이 필요한 부위를 쉽게 판단할 수 있다.4. 측정점의 좁은 틈 이미지·점광상·전자선 기준선의 중심이 모두 일치하는 측정시스템으로 편차를 검사해 잘못된 수치로 측정하는 것을 방지할 수 있다.5. 광 절단의 앙각은 표준 90 ° 외에 용도에 따라 30 ° 60 ° 120 ° 를 가져올 수 있습니다.

제품 정보

주요 사양

관찰 방법

광 절단 방식 (좁은 틈 광학 시스템을 이용하여 깊이 높이를 측정)

■ 물경

고정 배율 10배 (5배, 20배)

축 굴착 방식

점광 기반 AF 연속 추적(오프라인 시 수동 측정 가능)

투사 틈새

10um 반반사 렌즈형

Z축 측정

Z축 디지털 선형 계기 0.1 읽기

반복 정밀도

1 마이크로미터 이내

라이트 사용

반도체 레이저 (클래스 2), 할로겐 광원

자동 스냅은 단면 모양의 가늘고 좁은 광선, 빨간색 레이저 스펙클러, 계단 차이의 변화를 나타냅니다.Z

축 기능 빠르게 따라가기 수치를 측정하는 디지털 디스플레이(자동 초점)·시스템) 기능

전자선 방식의 기준선과 결합하여 측정 범위를 넓히고 이용 가치를 높였으며, 예

신형 심도 고도 측정기.

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