수입 태양광 전지 효율 손실 분석기 회사

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개요

광염 테크놀로지 QE-RX 태양전지 효율 손실 분석기는 고효율 태양전지 개발에 사용할 수 있다.QE-RX는 PV-EQE, 반사율 및 PV-IQE 데이터를 측정할 수 있을 뿐만 아니라 분석 소프트웨어인 SQ-JVFLA와 결합하여 Jsc, Voc 및 FF 손실을 분석할 수 있다.광염은 QE-RX 내에 세 가지 다른 테스트 기능을 통합하고 SQ-JVFLA 소프트웨어를 개발하여 사용자가 Shockley-Queisser 열 한계 이론을 사용하여 세 가지 다른 손실을 분석할 수 있도록 도왔다.QE-RX는 당신입니다.

제품 정보

특색

QE-RX는태양광 전지 효율 손실 분석기 의 특징은 다음과 같습니다.

* 정확성 및 불확실성 감소

QE-RX의 교정은 NIST로 추적 가능하며, 이로 인해 QE-RX의 테스트 데이터는 다른 EQE 테스트 시스템보다 불확실성이 낮습니다.또한 QE-RX는 10년 동안 ISO/IEC 17025 인증을 받은 교정 실험실을 보유한 Enlitech에 의해 개발되었습니다.이로 인해 QE-RX의 Si 태양 전지 테스트 결과는 매우 정확합니다.QE-RX를 사용하면 신뢰할 수 있는 결과를 얻을 수 있습니다.

* 컴팩트하지만 다양한 기능

QE-RX는 모든 광학 및 기계 부품을 80cm x 80cm x 60cm의 본체에 통합하며, 여기에는 전기 신호 수집 자물쇠 증폭기가 포함된다.QE-RX는 컴팩트한 크기에 국한되지 않고 태양 전지의 EQE, 스펙트럼 응답, 반사율 및 IQE를 포함한 다양한 테스트 데이터를 제공합니다.컴팩트하고 다양한 기능이 QE-RX의 장점입니다.

* 전력 손실 분석

QE-RX는 SQ-JVFL 소프트웨어와 결합하여 Jsc-loss, Voc-loss, FF-loss 및 대역 갭 컴퓨팅을 포함한 가장 완전한 분석 기능을 제공합니다.이러한 매개 변수는 생산 생산량 제어 및 효율성 제안의 핵심 요소이며 이는 QE-RX를 태양광 산업의 파트너로 만듭니다.

.PESC, PERC, PERL, HJT, 백접촉, 양면 및 TOP-Con 실리콘 태양전지용

. QE(양자 효율), PV-EQE(외부 양자 효율), IPCE(입사 광자-전자 변환 효율), SR(스펙트럼 응답), IQE(내부 양자 효율) 및 반사율에 대한 데이터를 제공합니다.

. 구조가 치밀하고 중복성이 99.5% 이상 높습니다.

. 파장 범위: 300~1200nm

.Jsc 손실 분석 및 보고 (SQ-JVFLA 소프트웨어 사용).

. 직업 손실 분석 및 보고 (SQ-JVFLA 소프트웨어 사용).

.FF 손실 분석 및 보고 (SQ-JVFLA 소프트웨어 사용)

. 제공되는 EQE 불확실성 평가 보고서 및 ISO/IEC 17025 인증을 받은 품질 관리는 저널 논문 투고에 사용될 수 있습니다.

.다양하고 맞춤화된 샘플 테스트 장치.