OPTM 시리즈현미분광막 두께계

• 미세 영역에서 *를 통해 반사율을 측정하는 현미경 스펙트럼을 사용하여 고정밀 필름 두께/광학 상수를 분석할 수 있습니다.

• 다양한 필름, 웨이퍼, 광학 재료 및 다층 필름과 같은 비파괴 및 비접촉 방식으로 코팅의 두께를 측정할 수 있습니다.측정 시간에는 1초/포인트의 고속 측정이 가능하며 처음 사용하는 사용자라도 광학 상수를 쉽게 분석할 수 있는 소프트웨어가 탑재됐다.

• 헤드에 박막 두께 측정에 필요한 기능 통합

• 현미경 스펙트럼을 통한 고정밀 측정 * 대 반사율(다층막 두께, 광학 상수)

• 1시 1초 고속 측정

• 현미분광 아래 넓은 범위의 광학 시스템 (자외선에서 근적외선까지)

• 영역 센서의 보안 메커니즘

• 간단한 분석 마법사, 초보자도 광학 상수 분석 가능

• 개별 측정 헤드가 다양한 온라인 객제화 요구에 대응

• 다양한 사용자 지정 지원

측정 항목:

•* 예반사율 측정

• 다층막 분석

• 광학 상수 분석(n: 굴절률, k: 소광계수)

OPTM 시리즈현미분광막 두께계