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호남 그레이버 전자 과학 기술 유한 회사
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    호남성 장사시 천심구 성남로가두 부용로와 성남로가 만나는 서북쪽 905방

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ESD 정전기 및 래치 테스트 시스템 견적

협상 가능업데이트01/21
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개요

ES660 정전기 방전 및 래치 테스트 시스템은 현대 반도체 테스트의 엄격한 요구 사항을 충족하도록 설계된 멀티핀 자동 테스트 장비입니다.이 다기능 장치는 인체 모형(HBM), 기계 모형(MM) 및 래치 테스트를 원활하게 지원하도록 설계되었으며, 집적 회로(IC) 및 전자 부품의 신뢰성과 안정성을 평가하기 위한 포괄적인 솔루션을 제공합니다.ES660-P1 구성은 최대 1280개의 핀을 지원하므로 복잡한 IC 및 전자 부품의 연결이 많은 테스트에 적합합니다.테스트 시간을 단축하고 생산성을 향상시킵니다.

제품 정보

ES660 정전기 방전 및 래치 테스트 시스템

1. 묘사

ES660 시리즈 정전기 방전 및 래치(LU) 테스트 시스템은 현대 반도체 테스트의 엄격한 요구 사항을 충족하도록 설계된 멀티핀 자동 테스트 장비입니다.이 다기능 장치는 인체 모형(HBM), 기계 모형(MM) 및 래치 테스트를 원활하게 지원하도록 설계되었으며, 집적 회로(IC) 및 전자 부품의 신뢰성과 안정성을 평가하기 위한 포괄적인 솔루션을 제공합니다.ES660은 ES612A 시리즈의 업그레이드 버전으로 더 높은 구성 옵션을 제공합니다.

ES660-P1 구성은 최대 1280개의 핀을 지원하므로 복잡한 IC 및 전자 부품의 연결이 많은 테스트에 적합합니다.높은 핀 수 용량을 통해 대규모 장비를 정확하고 효율적으로 평가하여 테스트 시간을 단축하고 생산성을 향상시킬 수 있습니다.

더 많은 핀이 필요한 경우 ES660-P1 구성을 ES660-P2(최대 2560핀)로 업그레이드할 수 있습니다.

2. 피쳐

  • 다양한 테스트 방법 및 표준 호환

  • 매우 유연한 오프셋 및 핀 수 구성

  • 자동화된 테스트 효율성

  • 우수한 제어 및 모니터링 기능

  • 누설 및 DC 스캔

  • 데이터 분석

  • 멀티 방전 헤드, 소프트웨어 자동 전환

3. 적용

  • 반도체 부품 ESD 테스트

  • HBM 모듈은 ANSI/ESDA/JEDEC JS-001, MIL-STD-883E, AEC Q100-002 준수

  • MM 모듈 ANSI/ESDA SP5.2 호환

  • 래치 테스트는 JEDEC JESD78 호환

  • 순간 래치 ANSI/ESD SP5.4.1 호환

4. 규격


ES660 베이스 유닛

매개변수 ES660은 단위 비고
터치스크린 5 인치
치수 480 x 497.5 x 265 mm
무게 28 Kg의 전체 설치
ESD 和 LU 波形 패시브 전압 및 전류 프로브 옵션

지원되는 오실로스코프 Keysight, Tektronix, LeCroy, Rigol의 주요 모델
사용자 정의 가능
지원되는 SMU Keysight, Tektronix, LeCroy, Rigol의 주요 모델
사용자 정의 가능
지원되는 전원 공급 장치 Keysight, Tektronix, LeCroy, Rigol의 주요 모델
사용자 정의 가능

HBM 마네킹 옵션

(ANSI/ESDA/JEDEC JS-001)

매개변수 ES660-P1-HBM8의 ES660-P1-HBM10의 단위 비고
출력 전압 ±10~8000 ±10~10000 V
방전 RC 값 C: 100 pF ± 10%, R: 1.5kΩ ± 1%

합선부하 피크 전류Ips kV당 0.67±10% A
합선부하 상승 시간Trs는 2개 < trs는< 10 ns는
합선부하 감소 시간Tds는 130 < tds는< 170 ns는
합선진령trs는 < Ips의 15%

500Ω로드 피크전류IPR IPR/ Ips≥ 63%

500Ω부하 상승 시간Trr 5개 < trr< 25 ns는
가장 빠른펄스 속도 10 개 / 초
동시 펄스 수 >=8
512 핀 이상

MM 모델 옵션

(ANSI/ESD SP5.2)

매개변수 ES660-P1-MM2는 ES660-P1-MM4는 단위 비고
출력 전압 ±10 ~ 2000 ±10 ~ 4000 V
방전 RC 값 C: 200 pF, R: 0Ω

합선부하피크 전류Ip1은 1.75±10% 100V당

합선부하Ip2는 Ip1은의 67% ~ 90%

합선부하 펄스 주기T오후 66 < t오후< 90

500오메가 로드 피크전류IPR 0.85 – 1.2
@ 400V 표준 준수
500Ω부하I100 0.23 – 0.4
@ 400V 표준 준수
가장 빠른 펄스 속도 10 개 / 초
동시 펄스 수 >=8
512 핀 이상


DC & 래치 옵션

(JEDEC JESD78F.01)

매개변수 ES660-P1-LU는 비고
사전 처리 벡터 가능 ≥ 20MHz, 256K 깊이 외부 설정
V/I 4선 켈빈 측정
DUT V/I 버스 전원 3+1、5+1、7+1 DC 소스 외부 확장 지원
LU 파형 캡처
행렬DC는전압 200V
SS는R 행렬DC는전압(V) 100V의
발돋움DC는전류 2A는
DC 채널 전류 15A는
기본 래치 소스 전압 >= 150V 흐름 제한 1.2A
기본래치 소스 전류 >= 10A 전압 6V


TLU 순간 래치 옵션

(ANSI/ESD SP5.4.1)

계획래치 순간적 펄스 소스에 대한 하드웨어 지원:

ES622는TLP는/ VF는TLP는)EOS-500 (EOS),LVS-500(LVS는),MM


5. 주문 정보


번호 모델 묘사
기본 셀 옵션
1.1 ES660-P1-BU는 릴레이 기반 HBM/MM/LU ATE 시스템 베이스 유닛
1.2 ES660-P1-HBM8의 HBM 모델 테스트 옵션, 8kV까지 전압
1.3 ES660-P1-HBM10의 HBM 모델 테스트 옵션, 10kV까지 전압(단종)
1.4 ES660-P1-MM2는 MM 모델 테스트 옵션, 2kV까지 전압
1.5 ES660-P1-MM4는 MM 모델 테스트 옵션, 전압 최대 4kV(단종)
1.6 ES660-P1-LU는 래치 테스트 옵션 (소프트웨어)
1.7 ES660-P1-TLU는 순간 래치 테스트 옵션(소프트웨어 – TLP, EOS)
1.8 ES660-TFM의 온도 제어 모듈
릴레이카드및 DC 오프셋 옵션
2.1 ES660-P1-R64B4는 확장 릴레이 카드, 64핀, 3+1 오프셋
2.2 ES660-P1-R64B6는 확장 릴레이 카드, 64핀, 5+1 오프셋
2.3 ES660-P1-R64B8의 확장 릴레이 카드, 64핀, 7+1 오프셋
직류,누전래치펄스 소스 옵션
3.1 ES660-PSMU2는 크리피지 \\DC\\LU 소스: 듀얼 채널 펄스 SMU(210V/1.5A)
3.2 ES660-SMU1의 크리피지 \ \ DC 소스: 단일 채널 SMU(200V/1A)
3.3 ES660-PSU1 DC 전원: 플렉스 채널 PSU(32V/3A X 2 Ch + 6V/5A X 1 Ch 또는 70V/3A X 1 Ch, 또는 32V/6A X 1 Ch + 6V/5A X 1 Ch)
3.4 ES660-PSU2 DC 전원: 3채널 PSU(60V/3A X 2 Ch+5V/3A X 1 Ch, 또는 125V/3A X 1 Ch)
3.5 ES660-PSU3 DC 전원: 고전류 PSU(20V/20A X 1Ch)
3.6 ES660-PSU4 DC 전원: 고전류 PSU(30V/25A X 1Ch)
3.7 ES660-PSU5 DC 전원: 3채널 PSU(30V/6A X 2Ch, 5V/3A X 1Ch, 또는 60V/6A X 1Ch)
3.8 ES660-PSU7 DC 전원: 이중 PSU(100V/1A 또는 30V/5A)
3.9 ES660-PSU-MC1의 다중 채널 PSU: 기본 프레임, 오실로스코프
3.10 ES660-PSUC1 다중 채널 PSU: 50V, 5A, 50W 모듈
3.11 ES660-PSUC2 다중 채널 PSU: 50V, 10A, 100W 모듈
3.12 ES660-PSUC3 다중 채널 PSU: 60V, 5A, 300W 모듈
3.13 ES660-PSUC4 다중 채널 PSU: 100V, 1A, 100W 모듈
3.14 ES660-PSUC5 다중 채널 PSU: 100V, 3A, 300W 모듈
3.15 ES660-PSUC6 멀티 채널 PSU: 150V, 2A, 300W 모듈
소켓 옵션 테스트
4.1 ES660-P1-DS512는 DUT 소켓 PCB 512핀
4.2 ES660-P1-DS1024의 DUT 소켓 PCB 1024핀
4.3 ES660-P1-DSC1 DUT 소켓 PCB 사용자 정의 핀 수
오실로스코프 옵션
5.1 MISC-OSC350의 디지털 오실로스코프(350MHz, 4채널)
5.2 MISC-OSC1 디지털 오실로스코프 (1 GHz, 5 GS/s, 4 Ch)
5.3 CT-T03-1p0의 광대역 전류 프로브, 1V/A, 2kHz – 2GHz


참고: 마더보드, 매트릭스 카드, 파형판 및 자체 검사 진단판은 장비의 표준 구성이므로 주문 정보에 반영되지 않습니다.

ES660 정전기 방전 및 래치 테스트 시스템