스위스 만통 XDS IOPA 근적외선 스펙트럼 분석기

스위스 만통 XDS IOPA 근적외선 스펙트럼 분석기소개

기기 특성 및 이점·XDS NIR 기술은 단순하고 규격화된 원활한 이동·빠른 분리형 프로브를 사용하도록 해 고체와 액체의 측정·시약 없이 시료 제조를 최적화했다.고체 분말, 큰 입자, 알약 또는 정제를 빠르고 손상없이 분석 할 수 있습니다.재료 측정 또는 성분 검사는 실험실에서 또는 온라인 방식으로 원래 포장 중, 봉투 또는 샘플 병의 샘플을 수행 할 수 있습니다.샘플의 물리적 속성에 따라 샘플 조명을 조정할 수 있는 조절 가능한 광점 크기를 선택하십시오.

XDS IOPA 근적외선 스펙트럼 분석기일반적인 실험을 대체하고 제품의 체류시간을 단축하며 실험실의 분석시간을 소형화하기 위해 설계되였다.XDS IOPA 근적외선 스펙트럼 분석기실험실 반응 모니터링에 사용할 수 있으며, 중간 시험 과정 응용의 보충 방안으로 사용할 수 있다.XDS IOPA 근적외선 스펙트럼 분석기반사 프로브와 침입 프로브의 두 가지 프로브가 있습니다.반사 프로브는 고체, 고도로 분산된 액체 및 펄프를 스캔하는 데 적합합니다.프로브에 담가 수상 제품, 투명 액체와 용제를 분석하다.XDS IOP 분석기의 광섬유 설계를 통해 까다롭고 위험한 샘플링 환경에서 직접 사용할 수 있습니다.

XDS NIR 기술은 분석 성능뿐만 아니라 입찰 방법의 연구 개발을 가속화하고 구현 시간을 단축하며 입찰의 원활한 이전을 보장합니다.사용, 인터페이스 친화성, 네트워킹 기능을 갖춘 Vision®소프트웨어는 감정, 정성, 정량 등의 방법을 쉽게 실현할 수 있다.키를 누르거나 마우스를 클릭하면 정확한 분석이 완료됩니다.

스위스 만통 XDS IOPA 근적외선 스펙트럼 분석기특징 및 이점

• XDS NIR 기술을 통해 단순하고 표준화된 원활한 전환 보장

• 고체 및 액체 측정을 최적화하는 빠른 분리형 프로브

• 시료 제조 불필요, 시약 불필요, 폐기물 불필요

• 중앙 집중식 데이터베이스 관리를 위한 네트워크 분석기

• 핫플러그 모듈 - 성능에 영향을 주지 않고 몇 분 이내에 교체 가능