Nicomp® 3000은
나노 레이저 입도계

동적 광 산란기

50 + 년의 역사를 가지고 있다
복잡한 시스템을 위한 설계고정밀 입도 분석 시나리오 제공
나노 우주의 신비를 탐험할 수 있습니다!

0.9° 스텝 다각도(MADLS) 진정한 다각도 모듈

서로 다른 입경의 나노 입자, 특히 입경이 레이저 파장보다 훨씬 작은 입자는 전통적인 동적 광 산란 이론에서 강도 분포 (PSD) 가 일부 세부 사항을 잃게 된다.Entegris（PSS）Nicomp® 3000 시리즈는 14.4 ° -180 ° 범위 내에서 0.9 ° 의 스텝을 가질 수 있는 다각도 모듈을 획기적으로 장착하여 특수 샘플 (예: 극소 입경) 에 대해 적합한 각도를 선택하여 검사할 수 있어 복잡한 체계에 대한 해상도를 크게 향상시켰다.

재사용 직삽 과녁 전기 레벨, 소모품 비용 절감

Zeta 전위 감지 모듈은 2열 직삽입식 표적 전극을 사용하여 청결하고 편리하며 세척이 쉽고 반복적으로 사용할 수 있습니다.환경을 보호할 뿐만 아니라 한 번에 버릴 수 있는 전극 모듈을 사용하는 비용도 크게 줄일 수 있습니다.

독점적인 Nicomp®다봉 분포, 1: 2의 다조분 분별 가능

Entegris（PSS）Nicomp® 3000 시리즈에는 Nicomp가 탑재되어 있습니다.®다봉계산법은 부동한 립경 (1: 2의 부동한 조분) 을 효과적으로 구분할수 있어 복잡한 체계와 다조분체계에 강유력한 생산도구를 제공해주었다.

(아래 그림은 고스 알고리즘과 Nicomp에서 동일한 복합 시스템 샘플입니다.®알고리즘 결과)

고스 입경 분포도

Nicomp®다봉 입경 분포도

자동 희석 모듈과 자동 샘플링 모듈로 시행착오 비용 및 인건비 절감

Entegris（PSS）Nicomp® 3000 시리즈는 동적 광산란법에 자동 희석 모듈과 자동 샘플링 모듈을 응용하여 인공 희석으로 인한 시행착오 비용과 오차를 효과적으로 피할 수 있을 뿐만 아니라 검측의 자동화 조작을 실현할 수 있어 대량의 검측에 좋은 해결 방안을 제공하였다.

제품 소개
제품소개

Nicomp® Z3000 나노미터 입도 및 ZETA 전위 분석기

검사 범위

입경 측정: 0.3nm-10.0μm

제타 전위: -500mV-+500mV

응용 분야

INI DLS 온라인 나노 레이저 입도계/온라인 동적 광 산란계

교정 불필요
*hydrodynamic radius，유체동력학 반경

응용 분야

균질기 / 연마기 하류의 입도 제어
지질체와 유제 등 나노제제 제품의 생산 모니터링
CMP 펄프(연마액)의 마모 모니터링
나노선진재료 생산 과정 중 입도 모니터링

계기 원리
원칙

동적 광 산란 방법(Dynamic Light Scattering) 원리 설명도

Zeta 전위 작동 원리 설명도

제타 전위는 입자 간 배척력을 측정하는 데 사용되며 체계의 안정성을 판단하는 측정 수단이다.

브라운 운동의 중요한 특징은 작은 입자의 운동은 빠르고 큰 입자의 운동은 느리다는 것이다.입자가 끊임없이 움직이기 때문에 산란 반점도 이동할 것이다.입자가 사방으로 운동하기 때문에 산란광의 위상이 중첩되면 광선 구역과 암흑 구역이 광강 방식으로 증가하고 감소하거나 다른 방식으로 표현되며 광강도 파동 형식이 된다.즉, 입자의 브라운 운동은 빛의 강한 파동을 초래한다.

라프라스 역전환을 통해 광신호를 지수 스펙트럼 형태로 변환해 데이터 처리하고, 무질서한 파동 곡선을 규칙적인 자가관련 C(t) 함수 곡선으로 변환한다.

자가 관련 C(t) 함수 곡선을 통해 붕괴 상수 를 얻고, 아래 공시를 통해 확산 계수 D를 얻는다.

1/= 2DK2(K는 산란 광파 벡터, 상수)

마지막으로 Stokes-Einstein 방정식을 통해 입경 크기 R:

방정식:
K = 볼츠만 상수;
T =절대온도
h = 용액의 절단 점도;
R = 입자 크기의 반지름;
D = 확산 계수;

Nicomp® 3000 시리즈 설비 검측 원리도

Nicomp® 3000 시리즈 나노 레이저 입도계는 동적 광 산란 원리로 샘플의 입도 분포를 측정 분석합니다.도플러 일렉트로포레틱 라이트 스캐터링(Doppler Electrophoretic Light Scattering·ELS)을 기반으로 ZETA 전위를 감지한다.나노급 및 마이크로미터급 측정 체계에 주로 사용되며, 입경 측정 범위는 0.3nm-10μm, ZETA 전위 측정 범위는 ±500mV이다. 동적 광산란 방법(DLS)은 전통적인 광산란 이론에서 분리되어 릴리 산란 지역의 작은 입자에 주목하며, 주로 나노급 분산 체계를 측정하는 데 사용된다.동적 광 산란은 빛의 강도 값의 파동을 통해 자체 관련 함수를 얻어 감쇠 시간 상수 ‐를 얻고, 나아가 입자의 확산 속도 D(Diffusion Coefficient, 확산 계수)를 계산하여 Stokes-Einstein 방정식을 대입하면 입자의 반경을 계산할 수 있다.

Zeta 전위 측정:Nicomp® Z3000은 다이내믹 광산란 기술(DLS)과 전기 수영 광산란법(ELS)을 결합해 아마이크로미터 입자 분포와 ZETA 전세 전위를 동시에 테스트할 수 있도록 했다.ELS는 전기영역과 광산란을 결합한 신형 광산란이다. 그것의 광산란 이론의 기초는 준탄성 충돌 이론이다. 실험할 때 샘플 슬롯 안에 외전장을 추가하면 대전입자는 고정 속도로 대전입자의 전성과 반대되는 전극 방향으로 이동하고 그에 상응하는 동적 광산란 스펙트럼은 도플러 표류를 발생시킨다. 이 표류는 전위 입자의 전위 측정 입자에 비례하여 전위 입자의 이동 속도를 얻을 수 있다. 따라서 전기영역의 표류 측정 입자가 이동한다.입자 간의 거부력을 테스트하여 시스템의 안정성을 판단하는 측정 수단 중 하나입니다.

위상 분석(PALS):위상 (Phase) 변화의 분석으로 원래의 스펙트럼의 표류를 대체하여 Zeta 전위 분석의 정밀도와 안정성을 현저하게 향상시켰을 뿐만 아니라 수상 체계의 제한을 돌파하여 유기상 체계에 대해서도 Zeta 전위의 정확한 분석을 제공할 수 있다.

제품 이점
제품 하이라이트

0.9° 스텝 다각도(MADLS) 진정한 다각도 모듈

서로 다른 입경의 나노 입자, 특히 입경이 레이저 파장보다 훨씬 작은 입자는 전통적인 동적 광 산란 이론에서 강도 분포 (PSD) 가 일부 세부 사항을 잃게 된다.Entegris（PSS）Nicomp® 3000 시리즈는 14.4 ° -180 ° 범위 내에서 0.9 ° 의 스텝을 가질 수 있는 다각도 모듈을 획기적으로 장착하여 특수 샘플 (예: 극소 입경) 에 대해 적합한 각도를 선택하여 검사할 수 있어 복잡한 체계에 대한 해상도를 크게 향상시켰다.

독점적인 Nicomp®다봉 분포, 1: 2의 다조분 분별 가능

Entegris（PSS）Nicomp® 3000 시리즈에는 Nicomp가 탑재되어 있습니다.®다봉계산법은 부동한 립경 (1: 2의 부동한 조분) 을 효과적으로 구분할수 있어 복잡한 체계와 다조분체계에 강유력한 생산도구를 제공해주었다.
(아래 그림은 고스 알고리즘과 Nicomp에서 동일한 복합 시스템 샘플입니다.®알고리즘 결과)

고스 입경 분포도

Nicomp®다봉 입경 분포도

초고해상도의 나노 검출 정밀도

단백질 샘플의 테스트를 통해Nicomp® 나노레이저 입도계는 10nm 미만의 입자에 대해 여전히 초고해상도와 정확도를 보여준다.Nicomp® 나노 레이저 입도계의 이런 초고해상도는 연구자들이 샘플의 입도 분포를 더욱 정확하고 진실하게 검출하는 데 효과적이다.

다음 그림에서 단백질 단합체의 입경 크기는 1.7nm이다

단백질 이중합체의 이론적 입경 크기는 1.7nm의 두 배인 3.4nm이다. Nicomp® 3000 시리즈가 측정한 결과는 2.9nm 정도였다.이 수치는 실제 입경 크기에 부합한다.

더 복잡한 4중합체에 대한 이론적 입경은 단중합체의 4배인 6.8nm이다. Nicomp® 3000 시리즈가 측정한 결과는 5.7nm였다. 이 수치는 실제 입경 크기에 부합한다.

위의 3 개의 데이터를 중첩하면 10nm 미만에서도 입경 차이가 적은 3 개의 피크를 얻을 수 있음을 분명히 볼 수 있으며 Nicomp를 보여줍니다.® 3000 시리즈 기기는 매우 높은 해상도와 민감도를 가지고 있다.

자동 희석 모듈과 자동 샘플링 모듈로 시행착오 비용 및 인건비 절감

Entegris（PSS）Nicomp® 3000 시리즈는 동적 광산란법에 자동 희석 모듈과 자동 샘플링 모듈을 응용하여 인공 희석으로 인한 시행착오 비용과 오차를 효과적으로 피할 수 있을 뿐만 아니라 검측의 자동화 조작을 실현할 수 있어 대량의 검측에 좋은 해결 방안을 제공하였다.

사용할 수 있는 여러 샘플 트레이

3×7 샘플-30mm 관 (50mL)
4×10 샘플-20mm 관 (20mL)
5×12 샘플-16mm 관 (14mL)
6×15 샘플-13mm 관 (7mL)

재사용 직삽 과녁 전기 레벨, 소모품 비용 절감

Zeta 전위 감지 모듈은 2열 직삽입식 표적 전극을 사용하여 청결하고 편리하며 세척이 쉽고 반복적으로 사용할 수 있습니다.환경을 보호할 뿐만 아니라 한 번에 버릴 수 있는 전극 모듈을 사용하는 비용도 크게 줄일 수 있습니다.

PMT & APD 듀얼 검출기

Entegris（PSS）Nicomp® 3000 시리즈는 감도가 높은 광전 배율 증폭관 검출기 및 눈사태 다이오드 검출기를 조립할 수 있으며, 전통적인 광전 배율 증폭관에 비해 7-10배 증폭 이득 효과가 있다.

소프트웨어 워크스테이션
소프트웨어 워크스테이션

포괄적인 권한 관리

사용자 관리 권한을 유연하게 설정하여 보안을 강화합니다.암호 복잡도, 자동 로그아웃 시간, 암호 수정 기한을 설정하여 CSV 컴퓨터 시스템 인증을 충족할 수 있습니다.

1. 사용자 관리
2. 샘플링 방법 편집 허용
3. 데이터베이스 관리
4. 링크 제어
4. 사용자가 기기로 샘플을 측정할 수 있도록 허용
5. 호스트의 펌웨어 업데이트 (엔지니어 권한)
6. 비밀번호 권한 설정
7. 데이터 자동 백업 위치 보기, 출력, 변경
8. 재계산 테스트 데이터 변경
9. 커브 가져오기
10. 커브 보정 (사용자에게 개방되지 않음)
11. 보고서 템플릿 감소 증가
12. 보고서 인쇄 또는 내보내기 허용
13. 샘플링 데이터 삭제 (소프트웨어 인터페이스만 볼 수 없고 데이터베이스 데이터는 여전히 존재하며 복원 가능)
14. 샘플링 데이터 삭제
15. 보고서 삭제
16. 파일 삭제

전체 감사 추적

상세한 감사 추적 기록을 갖추고 로그 내보내기 인쇄를 지원하며 사용자가 로그인하는 동안 모든 작업을 기록하고 작업 유형, 시간, 항목 등에 따라 검색할 수 있습니다.

다양한 데이터 백업 방식

데이터 백업은 파일 경로에 대한 수동 자동 백업을 지원합니다.백업 컨텐츠에는 전체 데이터 컨텐츠, 운영 방법, 감사 추적 로그 등이 포함됩니다.

소프트웨어 테스트 인터페이스

간결하고 명확하며 부동한 가중치를 지원하고 부동한 분석모형을 실시간으로 전환하여 부동한 지표를 재빨리 조회할수 있다.

계기 파라미터
기기 사양